Rasterelektronenmikroskop

(engl. scanning electron microscope) Mittels eines feingebündelten Elektronenstrahls wird beim Rasterelektronenmikroskop die Oberfläche des zu untersuchenden Objektes ­abgetastet. Die entstehenden Bilder weisen im Vergleich zu Lichtmikroskopen eine höhere Schärfentiefe auf, der maximale Vergrößerungsfaktor liegt bei 500.000:1. Der Elektronenstrahl wird meist über einen Wolframdraht erzeugt und dann in einem elektrischen Feld beschleunigt. Mit Hilfe von Mag­netspulen wird er auf einen Punkt auf dem Objekt fokussiert und über dessen Oberfläche geführt (Rastern). Dieser Vorgang findet im Hochvakuum statt. Die zu untersuchenden Präparate müssen daher wasserfrei sein, eine Betrachtung lebender Objekte ist demnach nicht möglich.

Referenzen

Dieser Begriff wird nicht referenziert.